Система N-SIM-E

 

 

Микроскоп сверхвысокого разрешения N-SIM создан с использованием технологии структурированного освещения. Система позволяет получить разрешение, в два раза превышающее разрешение обычных оптических микроскопов со скоростью до 0,6 сек/кадр. На фото микроскоп N-SIM (совместно с конфокальным микроскопом A1 и системой N-STORM).

 

 

 

Микроскоп N-SIM может быть установлен совместно с конфокальной приставкой, при этом, программное обеспечение NIS-Elements позволяет быстро переключаться между конфокальным режимом и режимом сверхвысокого разрешения в одном эксперименте.

 

 

 

В режиме 3D-SIM доступны два способа реконструкции. Послойная реконструкция (slice reconstruction) позволяет улучшить разрешение по аксиальной оси с оптическим секционированием 300 нм. Стек реконструкция (stack reconstruction) позволяет визуализировать более толстые образцы с более высокой контрастностью.

Спецификация

Режимы работы

3D-SIM

Латеральное разрешение (XY)

115 нм в режиме 3D-SIM

Аксиальное разрешение (Z)

269 нм в режиме 3D-SIM

Время захвата изображения

До 1 сек/кадр (3D-SIM)

Многоцветные изображения

До 3 цветов (последовательно)

Совместимые лазеры

488 нм/ 561 нм/ 640 нм

Детектор

Камера sCMOS ORCA-Flash 4.0 (Hamamatsu Photonics K.K.)

Развернуть
Вернуться наверх