Система N-STORM

 

Микроскопия сверхвысокого разрешения N-STORM (STochastic Optical Reconstruction Microscopy) основана на реконструкции изображения в сверхвысоком разрешении, на основании информации о точной локализации отдельных флуорохромов. Микроскоп
N-STORM на базе инвертированного микроскопа Nikon Ti-E с программным обеспечением NIS-Elements позволяет проводить многоцветную локализация в трех измерениях с высокой точностью, что обеспечивает получение изображения с разрешением до 20 нм (XY).

 

 

N-STORM позволяет получить сверхвысокое разрешение также по аксиальной оси (Z), в десять раз превышающее обычное разрешение оптических микроскопов. Функция 3D-Stack позволяет сопоставить несколько 3D-изображения STORM, чтобы получить единое 3D-изображение более толстого участка образца.

Скорость захвата изображения значительно улучшена, по сравнению с предыдущими модификациями прибора. Использование в качестве детектора камеры типа sCMOS позволяет получать 1 кадр сверхвысокого разрешения за несколько секунд. Благодаря этому усовершенствованию стала возможна визуализация живых образцов в режиме STORM.

Спецификация

Режимы работы

2D-STORM (normal mode and continuous mode)

3D-STORM (normal mode and continuous mode)

Латеральное разрешение (XY)

До 20 нм

Аксиальное разрешение (Z)

До 50 нм

Максимальное поле зрения

80 мкм х 80 мкм

Многоцветные изображения

До 3 цветов

Совместимые комбинации лазеров

405 нм/488 нм/561 нм/647 нм,

405 нм/458 нм/488 нм/561 нм/647 нм,

405 нм/445 нм/488 нм/561 нм/647 нм

Детектор

Камера sCMOS ORCA-Flash 4.0 (Hamamatsu Photonics K.K.)

Совместимые объективы

CFI HP Apochromat TIRF 100x oil (NA 1.49)

CFI HP Plan Apochromat VC 100x oil (NA 1.40)

Развернуть
Вернуться наверх