Системы сверхвысокого разрешения

Благодаря использованию новой лицензированной UCSF технологии SIM и будучи созданной на основе признанного во всем мире исследовательского инвертированного микроскопа Nikon Eclipse Ti с прославленным объективом CFI Apo TIRF 100x oil (числовая апертура 1,49), разработанным при помощи уникальных оптических технологий и методов производства, система микроскопии N-SIM от Nikon может обеспечивать в два раза более высокое разрешение, чем обычные оптические микроскопы. Система N-SIM также позволяет получать изображения с максимальной скоростью по сравнению с аналогами - ее временное разрешение 0,6 с/кадр.

N-STORM является новой системой микроскопии сверхвысокого разрешения, сочетающей в себе технологию "микроскопии со стохастической оптической реконструкцией изображения" (лицензированную Гарвардским университетом) и исследовательский инвертированный микроскоп Eclipse Ti от Nikon. N-STORM обеспечивает на порядок более высокое разрешение, чем обычные оптические микроскопы, и сможет выполнять многоспектральную двух- и трехмерную наноскопию с разрешением в плоскости около 20 нм и по оси Z до 50 нм, что расширяет возможности оптических микроскопов почти до молекулярного уровня.