Nikon Instruments представляет новый конфокальный лазерный сканирующий микроскоп С2 с программным обеспечением NIS-Elements.
Новый продукт представлен на рынке вместе со специальным русифицированным программным обеспечением NIS-Elements C Version 3.2, что позволяет достичь более высоких показателей точности изображения и скорости.
Компания Nikon Instruments, являющаяся передовым производителем оптических приборов, презентовала свой новый продукт - конфокальный лазерный сканирующий микроскоп С2 с только что вышедшим русифицированным программным обеспечением NIS-Elements C Version 3.2. Новая оптическая система была торжественно представлена на выставке Неврология 2010, проходившей с 13 по 17 ноября 2010 года в Сан-Диего, Калифорния, США.
Отличительной чертой новой модели, по сравнению с предыдущей версией C1, является наличие четырехканального детектора. Новая система может эффективно разделять свет от различных флуорохромов, в то время как улучшенная электронная система позволила улучшить точность и скорость сканирования.
«Сочетание новой микроскопической системы Nikon и программного обеспечения NIS Elements делает систему С2 один из лучших конфокальных микроскопов, когда-либо представленных на рынке» - комментирует Стефен Росс, директор отдела маркетинга компании Nikon Instruments. «Используя новый продукт, ученые смогут контролировать все параметры экспериментов».
Новая версия программного обеспечения NIS Elements 3.2 напрямую предназначена для линейки конфокальных продуктов компании Nikon Instruments, обеспечивая их дополнительным контролем и предварительно заданными схемами настроек параметров, например поддержка нескольких камер. Кроме того, NIS-Elements C Version 3.2 предлагает дополнительные возможности обмена полученными данными.
Полезные статьи: